Nowoczesne metody badań zestyków elektrycznych Tuliszków

Nowoczesne metody badań zestyków elektrycznych Autor: Piotr Borkowski Dostawca: Azymut liczba stron: 204 format: 16.5x23.5cm język wydania: polski data wydania: 01-01-2013 typ oprawy: oprawa miękka rok wydania: 2013 Wydawca: Exit EAN: 9788378370109 SPIS TREŚCI 1. Wstęp 2. Charakterystyka metod …

od 52,99 Najbliżej: 18 km

Liczba ofert: 1

Oferta sklepu

Opis

Nowoczesne metody badań zestyków elektrycznych Autor: Piotr Borkowski Dostawca: Azymut liczba stron: 204 format: 16.5x23.5cm język wydania: polski data wydania: 01-01-2013 typ oprawy: oprawa miękka rok wydania: 2013 Wydawca: Exit EAN: 9788378370109 SPIS TREŚCI 1. Wstęp 2. Charakterystyka metod badań zestyków elektrycznych 2.1. Ogólny opis zjawisk łączeniowych w łączniku zestykowym2.2. Cel i wymagania stawiane metodom badawczym2.3. Charakterystyka metod badań stosowanych za granicą2.4. Porównywalność wyników badań prowadzonych w różnych ośrodkach badawczych 3. Badanie erozji łukowej i rezystancji zestykowej styków w warunkach modelowych 3.1. Uwagi ogólne3.2. Uniwersalne stanowisko do badań w zakresie prądów małych3.3. Wybrane badania właściwości materiałów stykowych3.4. Stanowisko do badań w zakresie dużych prądów3.5. Wybrane badania właściwości erozyjnych i rezystancji materiałów stykowych typu Ag-C3.6. Badania erozji styków przy krótkotrwałym obciążeniu i stałym czasie łukowym3.7. Badanie migracji materiałów styków pod działaniem łuku 4. Badanie sczepiania styków w modelowych warunkach probierczych 4.1. Wprowadzenie4.2. Stanowisko do badań sczepiania statycznego4.3. Wybrane badania sczepiania statycznego wraz z analizą wpływu mikrostruktury materiału styku na własności styków4.4. Stanowisko do badań sczepiania dynamicznego4.5. Wybrane badania sczepiania dynamicznego 5. Badanie oddziaływania łuku na styki z wykorzystaniem cyfrowej kamery szybkiej6. Badania spektrometryczne powierzchni styków 6.1. Zestawienie metod spektrometrycznych6.2. Metoda skaningu mikroskopii elektronowej (SEM)6.3. Metoda spektrometrii atomowej6.4. Analiza struktury przekrojów poprzecznych styków z kompozytów Ag-C6.5. Analiza powierzchni styków Ag-WC-C i Ag-W-C6.6. Metody obrazowania powierzchni styków po działaniu łuku 7. Stanowisko probiercze do badań łączników instalacyjnych 7.1. Wprowadzenie7.2. Schemat blokowy stanowiska7.3. Oprogramowanie7.4. Badania styków z różnych materiałów w wybranym łączniku instalacyjnym 8. Badania modelowe styków za pomocą ich symulacji w profesjonalnym pakiecie komputerowym, z eksperymentalną weryfikacją wyników 8.1. Wprowadzenie8.2. Założenia wejściowe8.3. Modele matematyczne8.4. Założenia do obliczeń dla pojedynczego wyłączenia8.5. Założenia do obliczeń dla podwójnego wyłączenia (trzy etapy)8.6. Wyniki obliczeń8.7. Wnioski 9. Problematyka stykowa w łącznikach próżniowych10. Podsumowanie11. Literatura

Specyfikacja

Podstawowe informacje

Autor
  • Borkowski P.
ISBN
  • 9788378370109
Wybrane wydawnictwa
  • Exit
Rok wydania
  • 2021
Ilość stron
  • 204
Okładka
  • Miękka