Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych Radzionków

Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni. Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce. Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka. Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych – Zarysy kształtu, Falistość, Mikro- i nanochr Odkryj wyjątkowe kompendium poświęcone metrologii i analizie powierzchni, które łączy kilkudziesięcioletnie doświadczenie autora z praktycznymi zastosowaniami w przemyśle. Publikacja autorstwa profesora Stanisława Adamczaka, uznanego specjalisty z Politechniki Świętokrzyskiej, stanowi nieocenione źródło wiedzy dla inżynierów i techników. Dla kogo jest ta książka? Metrologowie Technolodzy Konstruktorzy urządzeń i aparatury pomiarowej Pracownicy służb kontrolno-pomiarowych Specjaliści w dziedzinie utrzymania ruchu Pracownicy przemysłu maszynowego i branż pokrewnych Studenci I i II stopnia kierunków technicznych Co zyskasz dzięki tej publikacji? Praktyczną wiedzę na temat metrologii geometrycznej powierzchni Ilustracje i przykłady zastosowań rozwiązań w przemyśle Umiejętność analizy falistości oraz mikro- i nanochr Wiedzę przydatną w pracy inżynierskiej i projektowej Kluczowe tematy i obszary Metrologia geometryczna Analiza powierzchni technologicznych Falistość Mikro- i nanochr Praktyczne zastosowania w przemyśle O Autorze Profesor Stanisław Adamczak to uznany ekspert w dziedzinie metrologii, z wieloletnim doświadczeniem w przemyśle oraz badaniach naukowych. Były rektor Politechniki Świętokrzyskiej, autor licznych publikacji naukowych, który dzieli się swoją wiedzą i doświadczeniem w tej książce. O Wydawcy Wydawnictwo Naukowe PWN to renomowany wydawca specjalizujący się w publikacjach naukowych i edukacyjnych. Dzięki wieloletniej tradycji i wysokim standardom edytorskim, PWN dostarcza czytelnikom wartościowe materiały, które wspierają rozwój wiedzy i umiejętności w różnych dziedzinach. Producent/osoba odpowiedzialna za bezpieczeństwo produktuWydawnictwo Naukowe PWN Spółka AkcyjnaGottlieba Daimlera 202-460 Warszawaasystent.marketing@pwn.com.pl22 6954321